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M/K 3D地层测试仪可测量纸张、玻璃纤维、纸板、纸巾和毛巾以及许多其他片状材料的地层。除了测量地层指数外,M/K还可以精确测量板材内部的缺陷和絮凝物,以及低密度袋,基重和内部标准偏差。与摄像系统不同,我们的设备使用激光类型的聚焦光束来精确测量薄片上每个像素的光密度。测试所有等级的纸:粘结纸、衬纸、再生纸、复印纸、铜版纸、彩色纸或任何其他等级的纸。在一次测试中,M/K地层测试仪扫描了320cm2 (16cm x 20cm)的大区域,每个像素都是独立测量的。没有其他台式地层测试器可以匹配这一扫描区域,因为相机系统的扫描范围仅限于大约1“x1”区域,存在光反射问题。M/K地层分析仪采用独立的像素扫描方法,避免了所有相机系统都会出现的光散射问题。我们还包括一个独特的功能,允许用户将光学灵敏度从低设置更改为超高设置,允许您过滤掉不太重要的絮凝体和片材缺陷。除了透射分析,我们还提供了一套可选的表面扫描光学元件,可以表征您的板材表面。比较钢丝面和毛毡面容易可靠。
采用新的“高分辨率”技术,将扫描分辨率提高了一倍。现在的高分辨率扫描具有无与伦比的分辨率,包括多达128种不同尺寸的絮凝体。
一些行业专利参考包括:
1.施乐公司,#美国专利#5,935,689,“打印方法”。
2.宝洁公司,美国专利#6,114,471,“强化纸”。
3.金伯利·克拉克,美国专利# US 7,258,758,“强化非织造布”。
4.Rayonier,美国专利#8,497,410“制造吸收性产品的方法”。
5.Newpage,美国专利#8,727,528,“用于喷墨打印的光滑记录介质”。
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